The paper proposes a test method for Analog-to-Information Converters (AICs) in the time domain, by extending the three-parameter sine fit proposed in clause 5.2 of the IEEE Std. 1241. © 2015 IEEE.

An extension to IEEE Std. 1241 Sine Fit for Analog-to-Information Converters Testing

Daponte P;De Vito L;Rapuano S
2015

Abstract

The paper proposes a test method for Analog-to-Information Converters (AICs) in the time domain, by extending the three-parameter sine fit proposed in clause 5.2 of the IEEE Std. 1241. © 2015 IEEE.
978-1-4799-6113-9
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